Γεωλογία / Περιβάλλον
ΦΑΣΜΑΤΟΦΩΤΟΜΕΤΡΑ
ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΑΝΑΛΥΤΕΣ ΑΚΤΙΝΩΝ Χ
ΑΝΑΛΥΣΗ ΜΕΤΑΛΛΩΝ – ΙΧΝΟΣΤΟΙΧΕΙΩΝ
ΑΝΑΛΥΣΗ ΦΥΤΟΦΑΡΜΑΚΩΝ
Φασματοφωτόμετρα UV-Vis (Agilent)
Φασματοφωτόμετρα UV-Vis με λυχνία ξένου, άριστο οπτικό σύστημα, ικανότητα λειτουργίας με ανοικτό κάλυμμα. Διατίθεται και όργανο με πρωτοποριακά εξαρτήματα θερμοστάτησης πολλών δειγμάτων σε διαφορετικές θερμοκρασίες. Καλύπτουν τις απαιτήσεις 21 CFR Part 11.
Δείτε περισσότερα Cary 60 | Cary 3500 | Carry 4000
Φασματοφωτόμετρα UV-Vis-NIR Agilent
Οπτικό σύστημα υψηλής απόδοσης, περιοχή μέτρησης από 175 έως 3300 nm μεγάλος χώρος δείγματος και σειρά εξαρτημάτων για μετρήσεις υλικών με όλες τις τεχνικές ανάκλασης και απορρόφησης.
Φασματοφωτόμετρα FTIR (Agilent)
Εργαστηριακά και φορητά φασματοφωτόμετρα FTIR με συμπαγή σχεδίαση, μέγιστη στιβαρότητα, υψηλή ενέργεια, μικρό βάρος για εύκολη μεταφορά και χειρισμό, σειρά εξελιγμένων εξαρτημάτων για κάλυψη διαφόρων τύπων τεχνικών μέτρησης και δειγμάτων.
Δείτε περισσότερα
Φασματόμετρα RAMAN (Agilent)
Πρώτων υλών Φασματόμετρα Raman φορητά και επιτραπέζια για ταυτοποίηση και ποσοτικούς προσδιορισμούς πρώτων υλών. Υψηλής απόδοσης για φαρμακευτικές εφαρμογές.
Φασματοφωτόμετρα UV-VIS Hitachi & VWR
Φασματοφωτόμετρα UV-VIS με άριστη ποιότητα κατασκευής. Διατίθενται όργανα μονής δέσμης VWR, ηλεκτρονικής διπλής δέσμης (Ratio Beam) Hitachi με λυχνία ξένου και υποδοχείς πολλών θέσεων και διπλής δέσμης Hitachi με λυχνία ξένου και υποδοχείς πολλών θέσεων καθώς και VWR με λυχνίες δευτερίου & βολφραμίου.
Φασματογράφος NMR Bruker
Η φασματογραφία NMR προσδιορίζει τη δομή οργανικών ενώσεων, βάσει διακριτών σημάτων των πυρήνων διαφόρων χημικών ομάδων των μορίων των ενώσεων αυτών. Οι φασματογράφοι NMR της Bruker, καλύπτουν ένα εύρος από μικρά επιτραπέζια συστήματα NMR έως μεγάλα, ισχυρά συστήματα με μεγάλης ισχύος μαγνήτες έως 1,2 GHz. Είναι κατάλληλοι για υγρά και στερεά δείγματα κάθε είδους, με μεγάλη ποικιλία probes και λογισμικού, με δυνατότητες αυτοματισμού. Καλύπτουν ευρύ φάσμα εφαρμογών σε έρευνα και βιομηχανία (τρόφιμα, φαρμακευτική, κλπ.).
Κυψελίδες
Μεγάλη ποικιλία κυψελίδων του οίκου Agilent Technologies για χρήση με φασματοφωτόμετρα UV-Vis και UV-Vis-NIR. Με δυνατότητα επιλογής μήκους διαδρομής. Πλήρης σειρά ορθογώνιων κυψελίδων, μικροκυψελίδων, κυλινδρικών κυψελίδων και κυψελίδων ροής με διάφορα μεγέθη και γεωμετρίες.
Λυχνίες Ορατού Υπεριώδους
Μεγάλη ποικιλία λυχνιών ορατού-υπεριώδους οίκου Agilent Technologies για Φασματοφωτόμετρα UV-VIS Agilent (λυχνία ξένου, υδραργύρου, δευτερίου, βολφραμίου). Σχεδιασμένες για να παρέχουν τη βέλτιστη ένταση, ευαισθησία και σταθερότητα, πληρώντας τα υψηλότερα πρότυπα ποιότητας και τον αυστηρότερο κανονισμό ασφάλειας.
Οπτικά Μικροσκόπια
Τα οπτικά μικροσκόπια της Leica Microsystems πληρούν τις υψηλότερες απαιτήσεις ανεξάρτητα από την εφαρμογή . Σχεδιασμένα για την καθημερινή εργαστηριακή εργασία μέχρι την έρευνα πολυδιάστατων δυναμικών διεργασιών σε ζωντανά κύτταρα. Διαθέτουν εξαιρετική ποιότητα εικόνας, εργονομικό χειρισμό, γρήγορα αποτελέσματα και αποδοτικότητα κόστους.
Στερεοσκοπία
Τα στερεοσκόπια και τα μακροσκόπια της Leica Microsystems επιτρέπουν την προβολή , ανάλυση και τεκμηρίωση δοκιμίων σε δύο και τρεις διαστάσεις. Ο συνδυασμός τους με πρωτοποριακούς φωτισμούς τύπου LED, ψηφιακές φωτογραφικές μηχανές υψηλής απόδοσης και το εύκολο στη χρήση λογισμικό Leica Application Suite, δημιουργεί κορυφαία στο είδος τους συστήματα απεικόνισης με αξεπέραστη διακριτική ανάλυση.
Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD)
Από πλήρως επιτραπέζια έως και υψηλού επιπέδου επιδαπέδια περιθλασίμετρα ακτίνων Χ με ευέλικτο σχηματισμό, για εφαρμογές αναγνώρισης φάσης, ποσοτικοποίησης, προσδιορισμού κρυσταλλικής δομής, μικροδομής, πάχους επιφανειών κλπ.
Φασματόμετρα φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθους εφαρμογών όπως π.χ. κράματα, τσιμέντα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβή ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας. Ανάλυση στοιχείων από Be έως και U, σε συγκεντρώσεις από ppm έως %.
Φορητά Φθορισμόμετρα Ακτίνων-Χ
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθος εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή, αρχαιομετρίας κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβής ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας.
Φασματόμετρα φθορισμού micro-XRF
Για τη στοιχειακή ανάλυση με μικρό σημείο εστίασης σε πολλά πεδία εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, αρχαιομετρίας, εγκληματολογίας, ηλεκτρονικά κλπ. Προσφέρουν δυνατότητα σημειακής ανάλυσης ή χαρτογράφηση (mapping) ολόκληρων επιφανειών ή αντικειμένων. Στην ανάλυση συνδυάζονται αποτελέσματα ποιοτικής και ποσοτικής ανάλυσης.
Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)
Συστήματα τεχνολογίας total reflection x-ray για στοιχειακή ανάλυση ιχνοστοιχείων, έως και σε ppb. Για μέτρηση μικροποσοτήτων (έως και μερικά pg, ng, μg δείγματος) σε περιβαλλοντικά, βιολογικά δείγματα, δείγματα τροφίμων κλπ, χωρίς την ανάγκη αερίων, ψυκτικών και με χαμηλή κατανάλωση ενέργειας.
Φασματόμετρα OES
Τεχνολογίας OES για τη στοιχειακή ανάλυση μετάλλων και κραμάτων. Με εφαρμογή σε χυτήρια και εργαστήρια μετάλλων για κάλυψη από ppm έως %.
Φασματόμετρο ICP/MS
Συστήματα με εξαιρετική ευαισθησία και με τα χαμηλότατα όρια ανίχνευσης στην παγκόσμια αγορά. Παρέχουν την καλύτερη απομάκρυνση παρεμποδίσεων με τη μοναδική σχεδίαση οκταπόλου της κυψελίδας συγκρούσεων/αντίδρασης. Επίσης η τεχνολογία τριπλού τετραπόλου (ICP-QQQ) επιτυγχάνει ακόμα χαμηλότερα όρια ανίχνευσης. Καλύπτει πλήρως εφαρμογές φαρμάκων τροφίμων, περιβαντολλογικών, κλπ.
Φασματόμετρο ICP-OES
Η Agilent κορυφαία προμηθεύτρια συστημάτων IOCP-OES, εμφάνισε την νεότερη σειρά του φασματομέτρου ICP-OES που επιτυγχάνει ταχύτατη ανάλυση, μειώνοντας τα λειτουργικά κόστη και αυξάνοντας την παραγωγικότητα.
Φασματόμετρο Ατομικής Απορρόφησης
Η Agilent διαθέτει πλήρη σειρά Ατομικών Απορροφήσεων που καλύπτουν τις τεχνικές φλόγας, φούρνου γραφίτη, με διόρθωση δευτερίου ή Zeeman, υδρίδια. Η τεχνολογία της “γρήγορης σάρωσης” επιτρέπει την γρήγορη και διαδοχική ανάλυση πολλών στοιχείων σε ένα δείγμα.
Φασματόμετρο Ατομικής Εκπομπής Πλάσματος Μικροκυμάτων
H Agilent πάντα πρωτοποριακή εμφάνισε το μοναδικό σύστημα Φασματομέτρου Ατομικής Εκπομπής Πλάσματος Μικροκυμάτων που λειτουργεί μόνο με άζωτο και δεν απαιτεί τη χρήση ασετυλίνης όπως τα συστήματα Ατομικής Απορρόφησης. Είναι κατάλληλο για την στοιχειακή ανάλυση μετάλλων από διάφορα υδατικά ή οργανικά δείγματα.
Αναλώσιμα και λυχνίες ΑΑ
Ο κατασκευαστικός οίκος Agilent Technologies παρέχει μια ολοκληρωμένη γκάμα αναλωσίμων όσων αφορά τις λυχνίες ατομικής απορρόφησης, σχεδιασμένες για τη συντήρηση και την υψηλή απόδοση του οργάνου AA. Επιπλέον, διαθέτει λάμπες ενός στοιχείου ή πολλαπλών στοιχείων καθώς και τύπου UltrAA υψηλής έντασης για ανώτερη οικονομικά αποδοτική απόδοση.
Οι λάμπες διόρθωσης υποβάθρου δευτερίου παρέχουν ακριβή και γρήγορη διόρθωση στο ευρύτερο δυνατό εύρος απορρόφησης και διακρίνονται για τη βέλτιστη διάρκεια ζωής τους.
Ο κατασκευαστικός οίκος Agilent Technologies προσφέρει ξεχωριστή γκάμα αναλωσίμων και αξεσουάρ φασματοφωτόμετρων ατομικής απορρόφησης συμβατά με συστήματα του κατασκευαστικού οίκου Perkin Elmer.
Αναλώσιμα ICP
O κορυφαίος οίκος Agilent Technologies διαθέτει ολοκληρωμένες λύσεις αναλωσίμων, αντιδραστηρίων αναφοράς και εξαρτημάτων για φασματοσκοπία επαγωγικά συζευγμένου πλάσματος
Δείτε περισσότερα
Εξασφαλίζουν εγγύηση της απόδοσης, της αξιοπιστίας και της μακροζωίας των οργάνων σας.
Διατίθεται πλήρης σειρά αναλώσιμων PerkinElmer ICP-OES και ICP-MS, η οποία είναι σχεδιασμένη και τα συστήματα PerkinElmer Optima, PE Elan ή Nexion.
Φασματόμετρα μάζας GC-TOF & GCxGC-TOF LECO
Φασματόμετρα μάζας τύπου TOF συνδεδεμένα με σύστημα αέριας χρωματογραφίας (GC-TOF & GCxGC-TOF). Διατίθενται με την πλέον αποτελεσματική διάταξη σύνδεσης στηλών για ψύξη και επαναθέρμανση δείγματος (modulator). Τα συστήματα GC-TOF & GCxGC-TOF Leco έχουν την υψηλότερη ταχύτητα λήψης φασμάτων για ταυτοποίηση μεγάλου αριθμού συστατικών στο ίδιο δείγμα.
Αξονική τομογραφία (Micro-CT) Bruker
Για την 3D απεικόνιση δειγμάτων για εφαρμογές γεωλογικές, φαρμακευτικές, ηλεκτρονικών κλπ.
