Μέταλλα – Μεταλλεύματα
ΦΑΣΜΑΤΟΦΩΤΟΜΕΤΡΑ – ΦΘΟΡΙΣΜΟΜΕΤΡΑ
ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΣΥΣΤΗΜΑΤΑ ΔΟΚΙΜΩΝ
ΕΛΕΓΧΟΣ ΕΠΙΜΕΤΑΛΛΩΣΗΣ
ΣΤΟΙΧΕΙΑΚΗ ΑΝΑΛΥΣΗ
ΠΡΟΣΔΙΟΡΙΣΜΟΣ ΚΑΤ/ΜΗΣ ΜΕΓΕΘΩΝ
ΑΝΑΛΥΤΕΣ ΑΚΤΙΝΩΝ Χ
ΣΚΛΗΡΟΜΕΤΡΑ
ΠΡΟΕΤΟΙΜΑΣΙΑ ΔΕΙΓΜΑΤΩΝ ΠΡΕΚΕΜ
Φασματόμετρο ICP/MS
Συστήματα με εξαιρετική ευαισθησία και με τα χαμηλότατα όρια ανίχνευσης στην παγκόσμια αγορά. Παρέχουν την καλύτερη απομάκρυνση παρεμποδίσεων με τη μοναδική σχεδίαση οκταπόλου της κυψελίδας συγκρούσεων/αντίδρασης. Επίσης η τεχνολογία τριπλού τετραπόλου (ICP-QQQ) επιτυγχάνει ακόμα χαμηλότερα όρια ανίχνευσης. Καλύπτει πλήρως εφαρμογές φαρμάκων τροφίμων, περιβαντολλογικών, κλπ.
Φασματόμετρο ICP-OES
Η Agilent κορυφαία προμηθεύτρια συστημάτων IOCP-OES, εμφάνισε την νεότερη σειρά του φασματομέτρου ICP-OES που επιτυγχάνει ταχύτατη ανάλυση, μειώνοντας τα λειτουργικά κόστη και αυξάνοντας την παραγωγικότητα.
Φασματόμετρο Ατομικής Απορρόφησης
Η Agilent διαθέτει πλήρη σειρά Ατομικών Απορροφήσεων που καλύπτουν τις τεχνικές φλόγας, φούρνου γραφίτη, με διόρθωση δευτερίου ή Zeeman, υδρίδια. Η τεχνολογία της “γρήγορης σάρωσης” επιτρέπει την γρήγορη και διαδοχική ανάλυση πολλών στοιχείων σε ένα δείγμα.
Φασματόμετρο Ατομικής Εκπομπής Πλάσματος Μικροκυμάτων
H Agilent πάντα πρωτοποριακή εμφάνισε το μοναδικό σύστημα Φασματομέτρου Ατομικής Εκπομπής Πλάσματος Μικροκυμάτων που λειτουργεί μόνο με άζωτο και δεν απαιτεί τη χρήση ασετυλίνης όπως τα συστήματα Ατομικής Απορρόφησης. Είναι κατάλληλο για την στοιχειακή ανάλυση μετάλλων από διάφορα υδατικά ή οργανικά δείγματα.
Αναλώσιμα και λυχνίες ΑΑ
Ο κατασκευαστικός οίκος Agilent Technologies παρέχει μια ολοκληρωμένη γκάμα αναλωσίμων όσων αφορά τις λυχνίες ατομικής απορρόφησης, σχεδιασμένες για τη συντήρηση και την υψηλή απόδοση του οργάνου AA. Επιπλέον, διαθέτει λάμπες ενός στοιχείου ή πολλαπλών στοιχείων καθώς και τύπου UltrAA υψηλής έντασης για ανώτερη οικονομικά αποδοτική απόδοση.
Οι λάμπες διόρθωσης υποβάθρου δευτερίου παρέχουν ακριβή και γρήγορη διόρθωση στο ευρύτερο δυνατό εύρος απορρόφησης και διακρίνονται για τη βέλτιστη διάρκεια ζωής τους.
Ο κατασκευαστικός οίκος Agilent Technologies προσφέρει ξεχωριστή γκάμα αναλωσίμων και αξεσουάρ φασματοφωτόμετρων ατομικής απορρόφησης συμβατά με συστήματα του κατασκευαστικού οίκου Perkin Elmer.
Αναλώσιμα ICP
O κορυφαίος οίκος Agilent Technologies διαθέτει ολοκληρωμένες λύσεις αναλωσίμων, αντιδραστηρίων αναφοράς και εξαρτημάτων για φασματοσκοπία επαγωγικά συζευγμένου πλάσματος
Δείτε περισσότερα
Εξασφαλίζουν εγγύηση της απόδοσης, της αξιοπιστίας και της μακροζωίας των οργάνων σας.
Διατίθεται πλήρης σειρά αναλώσιμων PerkinElmer ICP-OES και ICP-MS, η οποία είναι σχεδιασμένη και τα συστήματα PerkinElmer Optima, PE Elan ή Nexion.
Φθορισμόμετρα Ακτίνων-Χ Bruker
Τεχνολογίας microXRF & TXRF για τη στοιχειακή ανάλυση και με εφαρμογή σε δείγματα πολύτιμων μετάλλων, κοσμήματα, επιμεταλλώσεις και στον τομέα της αρχαιομετρίας, γεωλογίας κλπ.
Φορητά Φθορισμόμετρα Ακτίνων-Χ Bruker
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθος εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή, αρχαιομετρίας κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβής ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας.
Αξονική τομογραφία (Micro-CT) Bruker
Για την 3D απεικόνιση δειγμάτων για εφαρμογές γεωλογικές, φαρμακευτικές, ηλεκτρονικών κλπ.
Οπτικά Μικροσκόπια
Τα οπτικά μικροσκόπια της Leica Microsystems πληρούν τις υψηλότερες απαιτήσεις ανεξάρτητα από την εφαρμογή . Σχεδιασμένα για την καθημερινή εργαστηριακή εργασία μέχρι την έρευνα πολυδιάστατων δυναμικών διεργασιών σε ζωντανά κύτταρα. Διαθέτουν εξαιρετική ποιότητα εικόνας, εργονομικό χειρισμό, γρήγορα αποτελέσματα και αποδοτικότητα κόστους.
Στερεοσκοπία
Τα στερεοσκόπια και τα μακροσκόπια της Leica Microsystems επιτρέπουν την προβολή , ανάλυση και τεκμηρίωση δοκιμίων σε δύο και τρεις διαστάσεις. Ο συνδυασμός τους με πρωτοποριακούς φωτισμούς τύπου LED, ψηφιακές φωτογραφικές μηχανές υψηλής απόδοσης και το εύκολο στη χρήση λογισμικό Leica Application Suite, δημιουργεί κορυφαία στο είδος τους συστήματα απεικόνισης με αξεπέραστη διακριτική ανάλυση.
Ψηφιακά Μικροσκόπια
Τα ψηφιακά μικροσκόπια χωρίς προσοφθάλμιο σύστημα με ενσωματωμένη ψηφιακή φωτογραφική μηχανή η οποία λειτουργεί ως ανιχνευτής μετατρέπουν το χώρο εργασίας μικροσκοπίας σε εργονομικό ψηφιακό χώρο εργασίας κατάλληλο για παρατήρηση , τεκμηρίωση και ψηφιακή ανάλυση σε τομείς εφαρμογών παραγωγής, έρευνα/ανάπτυξης ποιοτικού ελέγχου και διασφάλισης της ποιότητας.
Συνεστιακά (Confocal) Μικροσκόπια
Τα συνεστιακά μικροσκόπια σάρωσης της Leica Microsystems αποτελούν τα βασικά εργαλεία σε υψηλού επιπέδου βιοϊατρική έρευνα και ανάλυση επιφανειών σε εφαρμογές επιστήμης υλικών, προσφέροντας πρωτοφανή ακρίβεια στην τρισδιάστατη απεικόνιση και ακριβή εξέταση υποκυτταρικών δομών και δυναμικών διεργασιών. Διαθέτουν επεκτάσιμη σχεδίαση και απεικόνιση υψηλής ταχύτητας κατάλληλη ώστε να παρέχει τα δεδομένα για ένα ευρύ φάσμα ολοκληρωμένων αναλυτικών τεχνικών.
Κάμερες μικροσκοπίων
Οι κάμερες μικροσκοπίων της Leica microsystems είναι κοινά αποδεκτές για τις γρήγορες ζωντανές εικόνες, την υψηλή ανάλυση και την έντονη και καθαρή αντίθεσή τους. Διατίθεται μεγάλη γκάμα με σκοπό την σωστή επιλογή για κάθε εφαρμογή και είναι συμβατές με σχεδόν όλα τα μικροσκόπια και στερεοσκόπια της Leica.
Μικροσκόπια Ατομικής Δύναμης AFM Bruker
Η Bruker είναι ο πιο διεθνώς αναγνωρισμένος κατασκευαστής Μικροσκοπίων AFM/SPM με ιστορία άνω των 30 ετών (πρώην Digital Instruments, Veeco). Με πληθώρα πρωτοποριών τεχνικών απεικόνισης (tapping mode, peak force tapping) καθώς και για νανομηχανικής. Όργανα που καλύπτουν πλήρως όλες τις εφαρμογές για υλικά αλλά και για βιολογικές εφαρμογές.
Προφιλόμετρα Επαφής Bruker
Που παρέχουν ακριβείς μετρήσεις σε διάφορες επιφάνειες για τον χαρακτηρισμό της τραχύτητας 2D και μετρήσεις βημάτων.
Οπτικά Προφιλόμετρα / 3D οπτικά μικροσκόπια Bruker
Η Bruker είναι ο κύριος ηγέτης στη τριδιάστατη μέτρηση επιφανειών, χωρίς επαφή με το δείγμα που μπορεί να είναι ένα μικρό ηλεκτρονικό ΜEMS έως ένα μεγάλο μέρος κινητήρα μηχανής.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια (SEM, TEM, FIB)
Ηλεκτρονικά Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM)
Τα ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης (SEM) της Hitachi διαθέτουν πήγες διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και διαφορετικών τύπων όπως, συμβατική θερμιονική πηγή , πηγή εκπομπής πεδίου με υψηλότερη φωτεινότητα και διακριτή ικανότητα για παρατήρηση επιφανειακών μικροδομών , πηγή εκπομπής πεδίου ηλεκτρονίων θερμοδυναμικής ισορροπίας. Προσφέρον λειτουργία σε συνθήκες υψηλού ,χαμηλού κενού και μεταβλητής πίεσης για διευρυμένο πεδίο εφαρμογών . Η σειρά διαθέτει και επιτραπέζια συμβατικά ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης για ευρεία γκάμα εφαρμογών.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM) της Hitachi διαθέτουν πηγές διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και με σκοπό την ιδανική επιλογή μοντέλου από τον χρήστη με βάση τη σύνθεση του δείγματος. Η σειρά διαθέτει μοντέλα 300kV και 200kV με υψηλή ανάλυση και δυνατότητα διείσδυσης σε ανόργανα υλικά όπως μέταλλα και κεραμικά καθώς και μοντέλο στα 120kV για εφαρμογές σε πολυμερή και βιολογικούς ιστούς. Η διαθεσιμότητα μικροσκοπίων με δυνατότητα διόρθωσης σφαιρικής εκτροπής και οι πήγες εκπομπής πεδίου αποτελούν ισχυρές επιλογές για προηγμένες αναλυτικές επιδόσεις.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB) είναι σχεδιασμένα για παρατήρηση της δομής της επιφάνειας των δειγμάτων με την ανίχνευση ηλεκτρόνιων που παράγονται από ακτινοβολία δέσμης ιόντων. Επιπλέον παρέχουν την δυνατότητα για την προετοιμασία εγκάρσιας τομής συγκεκριμένης περιοχής τoυ δείγματος για παρατήρηση με SEM και προετοιμασία εξαιρετικά λεπτών τομών για παρατήρηση ΤΕΜ. Η Hitachi ενσωματώνει την τεχνολογία FIB με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης ( SEM) σε ένα ενιαίο σύστημα και επιτρέπει επιτόπια παρατήρηση της διατομής που έχει παρασκευασθεί από το σύστημα FIB.
Συστήματα προετοιμασίας δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας
Η Leica Microsystems προσφέρει ένα ολοκληρωμένο σύνολο προϊόντων για την προετοιμασία βιολογικών, ιατρικών και βιομηχανικών δειγμάτων. Με επίκεντρο την ομαλή ροή όλων των σταδίων προεργασίας του δείγματος , η γκάμα προϊόντων της είναι απόλυτα προσανατολισμένη στις ανάγκες μιας ομαλής ροής εργασίας, ευθυγραμμισμένη με την υψηλής ακρίβειας προετοιμασία δειγμάτων σε TEM, SEM και AFM.
Προετοιμασία δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας SEM/TEM
Τα καινοτόμα επιτραπέζια συστήματα ZONESEM II και ΖΟΝΕΤΕΜ ΙΙ της Hitachi χρησιμοποιούν τεχνολογία καθαρισμού δειγμάτων που βασίζεται στην υπεριώδη ακτινοβολία και στοχεύουν στην ελαχιστοποίηση ή την εξάλειψη της συσσώρευσης υδρογονανθράκων από την επιφάνεια του δείγματος για αποτελεσματικότερη απεικόνιση με ηλεκτρονικά μικροσκοπία SEM και ΤΕΜ.
Δείτε περισσότερα
Συστήματα δοκιμών κρούσης (Instron)
Η αντοχή στην κρούση είναι μία από τις σημαντικότερες ιδιότητες που πρέπει να λάβουν υπόψη οι σχεδιαστές εξαρτημάτων και είναι ένα κρίσιμο μέτρο για την διάρκειας ζωής τους.
Συστήματα πίπτοντος βάρους (Instron)
Τα συστήματα πίπτοντος βάρους της Instron χρησιμοποιούνται για την ανάπτυξη, την τελειοποίηση και την επικύρωση των μοντέλων υλικών. Η νέα σειρά 9400 παράγει αξιόπιστα και επαναλαμβανόμενα αποτελέσματα για την δοκιμή υλικών και εξαρτημάτων πριν ή και κατά την διάρκεια της παραγωγής για την εξασφάλιση συνεχούς βελτίωσης. Δείτε περισσότερα
Συστήματα κρούσης εκκρεμούς μάζας (Instron)
Τα συστήματα κρούσης εκκρεμούς μάζας της Instron έχουν σχεδιαστεί για να ικανοποιούν την αυξανόμενη ζήτηση υψηλής ακρίβειας, επαναλαμβανόμενων δοκιμών κρούσης, σε ένα ευρύ φάσμα υλικών. Δείτε περισσότερα
Συσκευές ελέγχου επιμετάλλωσης (Quality by Vision)
Η Quality By Vision είναι παγκόσμιος ηγέτης στην ανάπτυξη και κατασκευή συστημάτων ελέγχου ποιότητας και παραγωγής μεταλλικών συσκευασιών για την βιομηχανία τροφίμων, κονσερβών, αναψυκτικών, αεροζόλ κ.α.
Συσκευές μέτρησης πάχος επιχρωμίωσης CHROMetal (Quality by Vision)
Τα συστήματα CHROMetal 9000 χρησιμοποιούν την ίδια τεχνολογία με τα STANNOMetal για να μετρήσουν με ακρίβεια το πάχος της επιχρωμίωσης αξιοποιώντας τα ηλεκτρολυτικά κελιά Sn (Stannium) και Cr (Chromium).
Χαρακτηριστικά:
– Χημική (καταστρεπτική) δοκιμή – πιο ακριβής από άλλους τύπους μετρήσεων.
– Μετρήσεις T.F.S (Tin Free Steel) και TP (Tin Plate)
– Τα προφίλ μπορούν να αποθηκευτούν για μελλοντική αναφορά
– Συμβατά με Windows
Συσκευές μέτρησης πάχους επικασσιτέρωσης STANNOMetal (Quality by Vision)
Τα συστήματα STANNOMetal 9000 προσφέρουν ακρίβεια στην μέτρηση του πάχους επίστρωσης κασσιτέρου.
Χαρακτηριστικά:
– Χημική (καταστρεπτική) δοκιμή
– Κουλομετρικό σύστημα δοκιμών
– Ζωντανά γραφήματα προφίλ της διαδικασίας
– Ειδικά σχεδιασμένο για επιχρυσωμένο χάλυβα
– Ακρίβεια στο 1% ή καλύτερη
– Τα προφίλ μπορούν να αποθηκευτούν για μελλοντική αναφορά.
– ASTM STD A630 Μέθοδος Β (Η μέθοδος Referee)
Αυτόματοι στοιχειακοί αναλυτές οργανικών & ανόργανων ενώσεων Θείο – Άνθρακα – Αζώτου – Οξυγόνου – Υδρογόνου (Leco)
Στοιχειακοί αναλυτές οργανικών & ανόργανων ενώσεων δειγμάτων στους τομείς της ενέργειας, των τροφίμων, των καυσίμων, των ορυκτών, των μεταλλευμάτων, του περιβάλλοντος, των επιστημών υγείας και της γεωργίας. Συνοδεύονται από ειδικό λογισμικό & Η/Υ.
Συστήματα Προσδιορισμού Κατανομής Μεγέθους Σωματιδίων (Horiba)
Κορυφαία όργανα για τον προσδιορισμό της κατανομής μεγέθους σωματιδίων με Laser για εργαστήρια ποιοτικού ελέγχου τροφίμων, φαρμάκων, τσιμέντου, κλπ. Εξαιρετικής κατασκευής και σταθερότητας.
Συστήματα SAXS
SAXS και GISAXS για μελέτη σωματιδίων στην περιοχή από 1 nm έως 0,1 μm. Για πολυμερή και πρωτεΐνες σε διάλυμα, υγρούς κρυστάλλους, χαρακτηριστικά επιφανείας, σκόνες, ολόκληρα δείγματα και λεπτές μεμβράνες, τα συστήματα όχι μόνο παρέχουν πληροφορίες για μεγέθη, σχήμα και κατανομή μεγέθους νανοσωματιδίων, αλλά και για δομική δυναμική.
Φασματόμετρα φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθους εφαρμογών όπως π.χ. κράματα, τσιμέντα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβή ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας. Ανάλυση στοιχείων από Be έως και U, σε συγκεντρώσεις από ppm έως %.
Φορητά Φθορισμόμετρα Ακτίνων-Χ
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθος εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή, αρχαιομετρίας κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβής ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας.
Φασματόμετρα φθορισμού micro-XRF
Για τη στοιχειακή ανάλυση με μικρό σημείο εστίασης σε πολλά πεδία εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, αρχαιομετρίας, εγκληματολογίας, ηλεκτρονικά κλπ. Προσφέρουν δυνατότητα σημειακής ανάλυσης ή χαρτογράφηση (mapping) ολόκληρων επιφανειών ή αντικειμένων. Στην ανάλυση συνδυάζονται αποτελέσματα ποιοτικής και ποσοτικής ανάλυσης.
Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)
Συστήματα τεχνολογίας total reflection x-ray για στοιχειακή ανάλυση ιχνοστοιχείων, έως και σε ppb. Για μέτρηση μικροποσοτήτων (έως και μερικά pg, ng, μg δείγματος) σε περιβαλλοντικά, βιολογικά δείγματα, δείγματα τροφίμων κλπ, χωρίς την ανάγκη αερίων, ψυκτικών και με χαμηλή κατανάλωση ενέργειας.
Φασματόμετρα OES
Τεχνολογίας OES για τη στοιχειακή ανάλυση μετάλλων και κραμάτων. Με εφαρμογή σε χυτήρια και εργαστήρια μετάλλων για κάλυψη από ppm έως %.
Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD)
Από πλήρως επιτραπέζια έως και υψηλού επιπέδου επιδαπέδια περιθλασίμετρα ακτίνων Χ με ευέλικτο σχηματισμό, για εφαρμογές αναγνώρισης φάσης, ποσοτικοποίησης, προσδιορισμού κρυσταλλικής δομής, μικροδομής, πάχους επιφανειών κλπ.
Σκληρόμετρα και συσκευές κοπής και προετοιμασίας δειγμάτων (Leco)
Η LECO προσφέρει μια ευρεία επιλογή σκληρόμετρων και συστημάτων προετοιμασίας δειγμάτων που ταιριάζουν σε οποιαδήποτε εφαρμογή. Διαθέτει και αυτόματα μοντέλα για μετρήσεις Microindentation, Macro Vickers, Multi VIckers και Rockwell.
Συστήματα χώνευσης δειγμάτων με μικροκύματα για στοιχειακή ανάλυση
Συστήματα SPE, GPC, Nitrogen Evaporation, Microwave synthesizer
