ΜΕΤΑΛΛΑ – ΕΞΟΠΛΙΣΜΟΣ
ΑΝΑΛΥΤΕΣ ΑΚΤΙΝΩΝ Χ
- Φθορισμόμετρα ακτίνων Χ (XRF)
- Φορητά φθορισμόμετρα ακτίνων Χ (HHXRF)
- Περιθλασίμετρα ακτίνων-Χ (XRD)
- Μικροανάλυση ακτίνων-Χ
- Φθορισμόμετρα ακτίνων Χ micro & TRXF (XRF)
ΦΑΣΜΑΤΟΜΕΤΡΑ
- Φασματογράφος ανάλυσης μετάλλων (OES)
- Φασματόμετρα εκπομπής πλάσματος ICP
- Φασματόμετρα Ατομικής Εκπομπής Πλάσματος Μικροκυμάτων (MP-AES)
- Φασματοφωτόμετρα Ατομικής Απορρόφησης (AAS)
- Φασματογράφος πλάσματος επαγωγικής σύζευξης με φασματογράφο μάζας (ICP-MS)
- Φασματοφωτόμετρα ορατού-υπεριώδους-εγγύς υπερύθρου (UV-VIS-NIR) Αgilent Technologies
- Φασματοφωτόμετρα ορατού-υπεριώδους (UV-VIS) Hitachi/VWR
- Κυψελίδες φασματομέτρων
ΣΤΟΙΧΕΙΑΚΟΙ ΑΝΑΛΥΤΕΣ
- Στοιχειακοί αναλυτές οργανικών ενώσεων (Άνθρακα- Θείου-Αζώτου-Οξυγόνου-Υδρογόνου)
- Στοιχειακοί αναλυτές ανόργανων ενώσεων (Άνθρακα- Θείου- Αζώτου-Οξυγόνου-Υδρογόνου)
- Αυτόματοι Αναλυτές υδραργύρου
ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
- Οπτικά Μικροσκόπια
- Στερεοσκόπια
- Ψηφιακά μικροσκόπια
- Ψηφιακές φωτογραφικές μηχανές μικροσκοπίας
- Οπτικά προφιλόμετρα
- Μικροσκόπια σάρωσης ακίδας (SPM-AFM)
- Συστήματα προετοιμασίας δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας
- Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο επιτραπέζιο (SEM)
ΣΥΣΤΗΜΑΤΑ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ ΚΑΙ ΦΥΣΙΚΩΝ ΙΔΙΟΤΗΤΩΝ ΜΕΤΑΛΛΩΝ
- Ηλεκτρομηχανικές μηχανές δοκιμών
- Σερβοϋδραυλικές μηχανές δοκιμών κόπωσης
- Συστήματα δοκιμών κρούσης
- Στατικές υδραυλικές μηχανές δοκιμών
- Συστήματα δοκιμών στρέψης
- Τριβόμετρα
- Σκληρόμετρα
- Νανοσκληρόμετρα
- Συστήματα μέτρησης συγκολλητικής/συνεκτικής ισχύος επιστρωμάτων
- Συσκευές ελέγχου επιμετάλλωσης (επιχρωμίωσης και επικασσιτέρωσης)
- Προφιλόμετρα επαφής
- Συνδυαστικός θερμικός αναλυτής (STA)
ΒΑΣΙΚΟΣ ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΑΚΟΣ ΕΞΟΠΛΙΣΜΟΣ
