Μικροσκόπια
Οπτικά Μικροσκόπια
Τα οπτικά μικροσκόπια της Leica Microsystems πληρούν τις υψηλότερες απαιτήσεις ανεξάρτητα από την εφαρμογή . Σχεδιασμένα για την καθημερινή εργαστηριακή εργασία μέχρι την έρευνα πολυδιάστατων δυναμικών διεργασιών σε ζωντανά κύτταρα. Διαθέτουν εξαιρετική ποιότητα εικόνας, εργονομικό χειρισμό, γρήγορα αποτελέσματα και αποδοτικότητα κόστους.
Στερεοσκοπία
Τα στερεοσκόπια και τα μακροσκόπια της Leica Microsystems επιτρέπουν την προβολή , ανάλυση και τεκμηρίωση δοκιμίων σε δύο και τρεις διαστάσεις. Ο συνδυασμός τους με πρωτοποριακούς φωτισμούς τύπου LED, ψηφιακές φωτογραφικές μηχανές υψηλής απόδοσης και το εύκολο στη χρήση λογισμικό Leica Application Suite, δημιουργεί κορυφαία στο είδος τους συστήματα απεικόνισης με αξεπέραστη διακριτική ανάλυση.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια (SEM, TEM, FIB)
Ηλεκτρονικά Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM)
Τα ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης (SEM) της Hitachi διαθέτουν πήγες διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και διαφορετικών τύπων όπως, συμβατική θερμιονική πηγή , πηγή εκπομπής πεδίου με υψηλότερη φωτεινότητα και διακριτή ικανότητα για παρατήρηση επιφανειακών μικροδομών , πηγή εκπομπής πεδίου ηλεκτρονίων θερμοδυναμικής ισορροπίας. Προσφέρον λειτουργία σε συνθήκες υψηλού ,χαμηλού κενού και μεταβλητής πίεσης για διευρυμένο πεδίο εφαρμογών . Η σειρά διαθέτει και επιτραπέζια συμβατικά ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης για ευρεία γκάμα εφαρμογών.
Δείτε περισσότερα
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM) της Hitachi διαθέτουν πηγές διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και με σκοπό την ιδανική επιλογή μοντέλου από τον χρήστη με βάση τη σύνθεση του δείγματος. Η σειρά διαθέτει μοντέλα 300kV και 200kV με υψηλή ανάλυση και δυνατότητα διείσδυσης σε ανόργανα υλικά όπως μέταλλα και κεραμικά καθώς και μοντέλο στα 120kV για εφαρμογές σε πολυμερή και βιολογικούς ιστούς. Η διαθεσιμότητα μικροσκοπίων με δυνατότητα διόρθωσης σφαιρικής εκτροπής και οι πήγες εκπομπής πεδίου αποτελούν ισχυρές επιλογές για προηγμένες αναλυτικές επιδόσεις.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB) είναι σχεδιασμένα για παρατήρηση της δομής της επιφάνειας των δειγμάτων με την ανίχνευση ηλεκτρόνιων που παράγονται από ακτινοβολία δέσμης ιόντων. Επιπλέον παρέχουν την δυνατότητα για την προετοιμασία εγκάρσιας τομής συγκεκριμένης περιοχής τoυ δείγματος για παρατήρηση με SEM και προετοιμασία εξαιρετικά λεπτών τομών για παρατήρηση ΤΕΜ. Η Hitachi ενσωματώνει την τεχνολογία FIB με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης ( SEM) σε ένα ενιαίο σύστημα και επιτρέπει επιτόπια παρατήρηση της διατομής που έχει παρασκευασθεί από το σύστημα FIB.
