Μικροσκόπια
Οπτικά Μικροσκόπια (Leica)
Τα οπτικά μικροσκόπια της Leica Microsystems πληρούν τις υψηλότερες απαιτήσεις ανεξάρτητα από την εφαρμογή . Σχεδιασμένα για την καθημερινή εργαστηριακή εργασία μέχρι την έρευνα πολυδιάστατων δυναμικών διεργασιών σε ζωντανά κύτταρα. Διαθέτουν εξαιρετική ποιότητα εικόνας, εργονομικό χειρισμό, γρήγορα αποτελέσματα και αποδοτικότητα κόστους.
Στερεοσκοπία (Leica)
Τα στερεοσκόπια και τα μακροσκόπια της Leica Microsystems επιτρέπουν την προβολή , ανάλυση και τεκμηρίωση δοκιμίων σε δύο και τρεις διαστάσεις. Ο συνδυασμός τους με πρωτοποριακούς φωτισμούς τύπου LED, ψηφιακές φωτογραφικές μηχανές υψηλής απόδοσης και το εύκολο στη χρήση λογισμικό Leica Application Suite, δημιουργεί κορυφαία στο είδος τους συστήματα απεικόνισης με αξεπέραστη διακριτική ανάλυση.
Ψηφιακά Μικροσκόπια (Leica)
Τα ψηφιακά μικροσκόπια χωρίς προσοφθάλμιο σύστημα με ενσωματωμένη ψηφιακή φωτογραφική μηχανή η οποία λειτουργεί ως ανιχνευτής μετατρέπουν το χώρο εργασίας μικροσκοπίας σε εργονομικό ψηφιακό χώρο εργασίας κατάλληλο για παρατήρηση , τεκμηρίωση και ψηφιακή ανάλυση σε τομείς εφαρμογών παραγωγής, έρευνα/ανάπτυξης ποιοτικού ελέγχου και διασφάλισης της ποιότητας.
Συνεστιακά (Confocal) Μικροσκόπια (Leica)
Τα συνεστιακά μικροσκόπια σάρωσης της Leica Microsystems αποτελούν τα βασικά εργαλεία σε υψηλού επιπέδου βιοϊατρική έρευνα και ανάλυση επιφανειών σε εφαρμογές επιστήμης υλικών, προσφέροντας πρωτοφανή ακρίβεια στην τρισδιάστατη απεικόνιση και ακριβή εξέταση υποκυτταρικών δομών και δυναμικών διεργασιών. Διαθέτουν επεκτάσιμη σχεδίαση και απεικόνιση υψηλής ταχύτητας κατάλληλη ώστε να παρέχει τα δεδομένα για ένα ευρύ φάσμα ολοκληρωμένων αναλυτικών τεχνικών.
Κάμερες μικροσκοπίων (Leica)
Οι κάμερες μικροσκοπίων της Leica microsystems είναι κοινά αποδεκτές για τις γρήγορες ζωντανές εικόνες, την υψηλή ανάλυση και την έντονη και καθαρή αντίθεσή τους. Διατίθεται μεγάλη γκάμα με σκοπό την σωστή επιλογή για κάθε εφαρμογή και είναι συμβατές με σχεδόν όλα τα μικροσκόπια και στερεοσκόπια της Leica.
Μικροσκόπια Ατομικής Δύναμης AFM (Bruker)
Η Bruker είναι ο πιο διεθνώς αναγνωρισμένος κατασκευαστής Μικροσκοπίων AFM/SPM με ιστορία άνω των 30 ετών (πρώην Digital Instruments, Veeco). Με πληθώρα πρωτοποριών τεχνικών απεικόνισης (tapping mode, peak force tapping) καθώς και για νανομηχανικής. Όργανα που καλύπτουν πλήρως όλες τις εφαρμογές για υλικά αλλά και για βιολογικές εφαρμογές.
Προφιλόμετρα Επαφής (Bruker)
Που παρέχουν ακριβείς μετρήσεις σε διάφορες επιφάνειες για τον χαρακτηρισμό της τραχύτητας 2D και μετρήσεις βημάτων.
Οπτικά Προφιλόμετρα / 3D οπτικά μικροσκόπια (Bruker)
Η Bruker είναι ο κύριος ηγέτης στη τριδιάστατη μέτρηση επιφανειών, χωρίς επαφή με το δείγμα που μπορεί να είναι ένα μικρό ηλεκτρονικό ΜEMS έως ένα μεγάλο μέρος κινητήρα μηχανής.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια SEM, TEM, FIB (Hitachi)
Ηλεκτρονικά Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM)
Τα ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης (SEM) της Hitachi διαθέτουν πήγες διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και διαφορετικών τύπων όπως, συμβατική θερμιονική πηγή , πηγή εκπομπής πεδίου με υψηλότερη φωτεινότητα και διακριτή ικανότητα για παρατήρηση επιφανειακών μικροδομών , πηγή εκπομπής πεδίου ηλεκτρονίων θερμοδυναμικής ισορροπίας. Προσφέρον λειτουργία σε συνθήκες υψηλού ,χαμηλού κενού και μεταβλητής πίεσης για διευρυμένο πεδίο εφαρμογών . Η σειρά διαθέτει και επιτραπέζια συμβατικά ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης για ευρεία γκάμα εφαρμογών.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM) της Hitachi διαθέτουν πηγές διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και με σκοπό την ιδανική επιλογή μοντέλου από τον χρήστη με βάση τη σύνθεση του δείγματος. Η σειρά διαθέτει μοντέλα 300kV και 200kV με υψηλή ανάλυση και δυνατότητα διείσδυσης σε ανόργανα υλικά όπως μέταλλα και κεραμικά καθώς και μοντέλο στα 120kV για εφαρμογές σε πολυμερή και βιολογικούς ιστούς. Η διαθεσιμότητα μικροσκοπίων με δυνατότητα διόρθωσης σφαιρικής εκτροπής και οι πήγες εκπομπής πεδίου αποτελούν ισχυρές επιλογές για προηγμένες αναλυτικές επιδόσεις.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB) είναι σχεδιασμένα για παρατήρηση της δομής της επιφάνειας των δειγμάτων με την ανίχνευση ηλεκτρόνιων που παράγονται από ακτινοβολία δέσμης ιόντων. Επιπλέον παρέχουν την δυνατότητα για την προετοιμασία εγκάρσιας τομής συγκεκριμένης περιοχής τoυ δείγματος για παρατήρηση με SEM και προετοιμασία εξαιρετικά λεπτών τομών για παρατήρηση ΤΕΜ. Η Hitachi ενσωματώνει την τεχνολογία FIB με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης ( SEM) σε ένα ενιαίο σύστημα και επιτρέπει επιτόπια παρατήρηση της διατομής που έχει παρασκευασθεί από το σύστημα FIB.
Συστήματα προετοιμασίας δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας
Η Leica Microsystems προσφέρει ένα ολοκληρωμένο σύνολο προϊόντων για την προετοιμασία βιολογικών, ιατρικών και βιομηχανικών δειγμάτων. Με επίκεντρο την ομαλή ροή όλων των σταδίων προεργασίας του δείγματος , η γκάμα προϊόντων της είναι απόλυτα προσανατολισμένη στις ανάγκες μιας ομαλής ροής εργασίας, ευθυγραμμισμένη με την υψηλής ακρίβειας προετοιμασία δειγμάτων σε TEM, SEM και AFM.
Προετοιμασία δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας SEM/TEM (Hitachi)
Τα καινοτόμα επιτραπέζια συστήματα ZONESEM II και ΖΟΝΕΤΕΜ ΙΙ της Hitachi χρησιμοποιούν τεχνολογία καθαρισμού δειγμάτων που βασίζεται στην υπεριώδη ακτινοβολία και στοχεύουν στην ελαχιστοποίηση ή την εξάλειψη της συσσώρευσης υδρογονανθράκων από την επιφάνεια του δείγματος για αποτελεσματικότερη απεικόνιση με ηλεκτρονικά μικροσκοπία SEM και ΤΕΜ.
Δείτε περισσότερα
