Συντήρηση Έργων Τέχνης
ΑΝΑΛΥΤΕΣ ΑΚΤΙΝΩΝ Χ
ΦΑΣΜΑΤΟΦΩΤΟΜΕΤΡΑ
ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD)
Από πλήρως επιτραπέζια έως και υψηλού επιπέδου επιδαπέδια περιθλασίμετρα ακτίνων Χ με ευέλικτο σχηματισμό, για εφαρμογές αναγνώρισης φάσης, ποσοτικοποίησης, προσδιορισμού κρυσταλλικής δομής, μικροδομής, πάχους επιφανειών κλπ.
Φασματόμετρα φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθους εφαρμογών όπως π.χ. κράματα, τσιμέντα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβή ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας. Ανάλυση στοιχείων από Be έως και U, σε συγκεντρώσεις από ppm έως %.
Φορητά Φθορισμόμετρα Ακτίνων-Χ
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθος εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή, αρχαιομετρίας κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβής ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας.
Φασματόμετρα φθορισμού micro-XRF
Για τη στοιχειακή ανάλυση με μικρό σημείο εστίασης σε πολλά πεδία εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, αρχαιομετρίας, εγκληματολογίας, ηλεκτρονικά κλπ. Προσφέρουν δυνατότητα σημειακής ανάλυσης ή χαρτογράφηση (mapping) ολόκληρων επιφανειών ή αντικειμένων. Στην ανάλυση συνδυάζονται αποτελέσματα ποιοτικής και ποσοτικής ανάλυσης.
Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)
Συστήματα τεχνολογίας total reflection x-ray για στοιχειακή ανάλυση ιχνοστοιχείων, έως και σε ppb. Για μέτρηση μικροποσοτήτων (έως και μερικά pg, ng, μg δείγματος) σε περιβαλλοντικά, βιολογικά δείγματα, δείγματα τροφίμων κλπ, χωρίς την ανάγκη αερίων, ψυκτικών και με χαμηλή κατανάλωση ενέργειας.
Φασματοφωτόμετρα UV-Vis (Agilent)
Φασματοφωτόμετρα UV-Vis με λυχνία ξένου, άριστο οπτικό σύστημα, ικανότητα λειτουργίας με ανοικτό κάλυμμα. Διατίθεται και όργανο με πρωτοποριακά εξαρτήματα θερμοστάτησης πολλών δειγμάτων σε διαφορετικές θερμοκρασίες. Καλύπτουν τις απαιτήσεις 21 CFR Part 11.
Δείτε περισσότερα Cary 60 | Cary 3500 | Carry 4000
Φασματοφωτόμετρα FTIR (Agilent)
Εργαστηριακά και φορητά φασματοφωτόμετρα FTIR με συμπαγή σχεδίαση, μέγιστη στιβαρότητα, υψηλή ενέργεια, μικρό βάρος για εύκολη μεταφορά και χειρισμό, σειρά εξελιγμένων εξαρτημάτων για κάλυψη διαφόρων τύπων τεχνικών μέτρησης και δειγμάτων.
Δείτε περισσότερα
Φασματοφωτόμετρα UV-VIS (Hitachi & VWR)
Φασματοφωτόμετρα UV-VIS με άριστη ποιότητα κατασκευής. Διατίθενται όργανα μονής δέσμης VWR, ηλεκτρονικής διπλής δέσμης (Ratio Beam) Hitachi με λυχνία ξένου και υποδοχείς πολλών θέσεων και διπλής δέσμης Hitachi με λυχνία ξένου και υποδοχείς πολλών θέσεων καθώς και VWR με λυχνίες δευτερίου & βολφραμίου.
Κυψελίδες
Μεγάλη ποικιλία κυψελίδων του οίκου Agilent Technologies για χρήση με φασματοφωτόμετρα UV-Vis και UV-Vis-NIR. Με δυνατότητα επιλογής μήκους διαδρομής. Πλήρης σειρά ορθογώνιων κυψελίδων, μικροκυψελίδων, κυλινδρικών κυψελίδων και κυψελίδων ροής με διάφορα μεγέθη και γεωμετρίες.
Λυχνίες Ορατού Υπεριώδους
Μεγάλη ποικιλία λυχνιών ορατού-υπεριώδους οίκου Agilent Technologies για Φασματοφωτόμετρα UV-VIS Agilent (λυχνία ξένου, υδραργύρου, δευτερίου, βολφραμίου). Σχεδιασμένες για να παρέχουν τη βέλτιστη ένταση, ευαισθησία και σταθερότητα, πληρώντας τα υψηλότερα πρότυπα ποιότητας και τον αυστηρότερο κανονισμό ασφάλειας.
Οπτικά Μικροσκόπια (Leica)
Τα οπτικά μικροσκόπια της Leica Microsystems πληρούν τις υψηλότερες απαιτήσεις ανεξάρτητα από την εφαρμογή . Σχεδιασμένα για την καθημερινή εργαστηριακή εργασία μέχρι την έρευνα πολυδιάστατων δυναμικών διεργασιών σε ζωντανά κύτταρα. Διαθέτουν εξαιρετική ποιότητα εικόνας, εργονομικό χειρισμό, γρήγορα αποτελέσματα και αποδοτικότητα κόστους.
Στερεοσκοπία (Leica)
Τα στερεοσκόπια και τα μακροσκόπια της Leica Microsystems επιτρέπουν την προβολή , ανάλυση και τεκμηρίωση δοκιμίων σε δύο και τρεις διαστάσεις. Ο συνδυασμός τους με πρωτοποριακούς φωτισμούς τύπου LED, ψηφιακές φωτογραφικές μηχανές υψηλής απόδοσης και το εύκολο στη χρήση λογισμικό Leica Application Suite, δημιουργεί κορυφαία στο είδος τους συστήματα απεικόνισης με αξεπέραστη διακριτική ανάλυση.
Ψηφιακά Μικροσκόπια (Leica)
Τα ψηφιακά μικροσκόπια χωρίς προσοφθάλμιο σύστημα με ενσωματωμένη ψηφιακή φωτογραφική μηχανή η οποία λειτουργεί ως ανιχνευτής μετατρέπουν το χώρο εργασίας μικροσκοπίας σε εργονομικό ψηφιακό χώρο εργασίας κατάλληλο για παρατήρηση , τεκμηρίωση και ψηφιακή ανάλυση σε τομείς εφαρμογών παραγωγής, έρευνα/ανάπτυξης ποιοτικού ελέγχου και διασφάλισης της ποιότητας.
Συνεστιακά (Confocal) Μικροσκόπια (Leica)
Τα συνεστιακά μικροσκόπια σάρωσης της Leica Microsystems αποτελούν τα βασικά εργαλεία σε υψηλού επιπέδου βιοϊατρική έρευνα και ανάλυση επιφανειών σε εφαρμογές επιστήμης υλικών, προσφέροντας πρωτοφανή ακρίβεια στην τρισδιάστατη απεικόνιση και ακριβή εξέταση υποκυτταρικών δομών και δυναμικών διεργασιών. Διαθέτουν επεκτάσιμη σχεδίαση και απεικόνιση υψηλής ταχύτητας κατάλληλη ώστε να παρέχει τα δεδομένα για ένα ευρύ φάσμα ολοκληρωμένων αναλυτικών τεχνικών.
Κάμερες μικροσκοπίων (Leica)
Οι κάμερες μικροσκοπίων της Leica microsystems είναι κοινά αποδεκτές για τις γρήγορες ζωντανές εικόνες, την υψηλή ανάλυση και την έντονη και καθαρή αντίθεσή τους. Διατίθεται μεγάλη γκάμα με σκοπό την σωστή επιλογή για κάθε εφαρμογή και είναι συμβατές με σχεδόν όλα τα μικροσκόπια και στερεοσκόπια της Leica.
Μικροσκόπια Ατομικής Δύναμης AFM (Bruker)
Η Bruker είναι ο πιο διεθνώς αναγνωρισμένος κατασκευαστής Μικροσκοπίων AFM/SPM με ιστορία άνω των 30 ετών (πρώην Digital Instruments, Veeco). Με πληθώρα πρωτοποριών τεχνικών απεικόνισης (tapping mode, peak force tapping) καθώς και για νανομηχανικής. Όργανα που καλύπτουν πλήρως όλες τις εφαρμογές για υλικά αλλά και για βιολογικές εφαρμογές.
Προφιλόμετρα Επαφής (Bruker)
Που παρέχουν ακριβείς μετρήσεις σε διάφορες επιφάνειες για τον χαρακτηρισμό της τραχύτητας 2D και μετρήσεις βημάτων.
Οπτικά Προφιλόμετρα / 3D οπτικά μικροσκόπια (Bruker)
Η Bruker είναι ο κύριος ηγέτης στη τριδιάστατη μέτρηση επιφανειών, χωρίς επαφή με το δείγμα που μπορεί να είναι ένα μικρό ηλεκτρονικό ΜEMS έως ένα μεγάλο μέρος κινητήρα μηχανής.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια (SEM, TEM, FIB)
Ηλεκτρονικά Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM)
Τα ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης (SEM) της Hitachi διαθέτουν πήγες διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και διαφορετικών τύπων όπως, συμβατική θερμιονική πηγή , πηγή εκπομπής πεδίου με υψηλότερη φωτεινότητα και διακριτή ικανότητα για παρατήρηση επιφανειακών μικροδομών , πηγή εκπομπής πεδίου ηλεκτρονίων θερμοδυναμικής ισορροπίας. Προσφέρον λειτουργία σε συνθήκες υψηλού ,χαμηλού κενού και μεταβλητής πίεσης για διευρυμένο πεδίο εφαρμογών . Η σειρά διαθέτει και επιτραπέζια συμβατικά ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης για ευρεία γκάμα εφαρμογών.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM) της Hitachi διαθέτουν πηγές διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και με σκοπό την ιδανική επιλογή μοντέλου από τον χρήστη με βάση τη σύνθεση του δείγματος. Η σειρά διαθέτει μοντέλα 300kV και 200kV με υψηλή ανάλυση και δυνατότητα διείσδυσης σε ανόργανα υλικά όπως μέταλλα και κεραμικά καθώς και μοντέλο στα 120kV για εφαρμογές σε πολυμερή και βιολογικούς ιστούς. Η διαθεσιμότητα μικροσκοπίων με δυνατότητα διόρθωσης σφαιρικής εκτροπής και οι πήγες εκπομπής πεδίου αποτελούν ισχυρές επιλογές για προηγμένες αναλυτικές επιδόσεις.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB) είναι σχεδιασμένα για παρατήρηση της δομής της επιφάνειας των δειγμάτων με την ανίχνευση ηλεκτρόνιων που παράγονται από ακτινοβολία δέσμης ιόντων. Επιπλέον παρέχουν την δυνατότητα για την προετοιμασία εγκάρσιας τομής συγκεκριμένης περιοχής τoυ δείγματος για παρατήρηση με SEM και προετοιμασία εξαιρετικά λεπτών τομών για παρατήρηση ΤΕΜ. Η Hitachi ενσωματώνει την τεχνολογία FIB με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης ( SEM) σε ένα ενιαίο σύστημα και επιτρέπει επιτόπια παρατήρηση της διατομής που έχει παρασκευασθεί από το σύστημα FIB.
Συστήματα προετοιμασίας δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας
Η Leica Microsystems προσφέρει ένα ολοκληρωμένο σύνολο προϊόντων για την προετοιμασία βιολογικών, ιατρικών και βιομηχανικών δειγμάτων. Με επίκεντρο την ομαλή ροή όλων των σταδίων προεργασίας του δείγματος , η γκάμα προϊόντων της είναι απόλυτα προσανατολισμένη στις ανάγκες μιας ομαλής ροής εργασίας, ευθυγραμμισμένη με την υψηλής ακρίβειας προετοιμασία δειγμάτων σε TEM, SEM και AFM.
Προετοιμασία δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας SEM/TEM
Τα καινοτόμα επιτραπέζια συστήματα ZONESEM II και ΖΟΝΕΤΕΜ ΙΙ της Hitachi χρησιμοποιούν τεχνολογία καθαρισμού δειγμάτων που βασίζεται στην υπεριώδη ακτινοβολία και στοχεύουν στην ελαχιστοποίηση ή την εξάλειψη της συσσώρευσης υδρογονανθράκων από την επιφάνεια του δείγματος για αποτελεσματικότερη απεικόνιση με ηλεκτρονικά μικροσκοπία SEM και ΤΕΜ.
Δείτε περισσότερα