Αναλυτές Ακτίνων Χ
Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD)
Από πλήρως επιτραπέζια έως και υψηλού επιπέδου επιδαπέδια περιθλασίμετρα ακτίνων Χ με ευέλικτο σχηματισμό, για εφαρμογές αναγνώρισης φάσης, ποσοτικοποίησης, προσδιορισμού κρυσταλλικής δομής, μικροδομής, πάχους επιφανειών κλπ.
Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ μονοκρυστάλλου (SC-XRD)
Για εφαρμογές τόσο στη Χημική και στη Βιολογική Κρυσταλλογραφία Στοιβαρής Τεχνολογίας με δυνατότητα χρήσης διαφορετικών λυχνιών (π.χ. microfocus, sealed, κλπ) και ανιχνευτών.
Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)
Συστήματα τεχνολογίας total reflection x-ray για στοιχειακή ανάλυση ιχνοστοιχείων, έως και σε ppb. Για μέτρηση μικροποσοτήτων (έως και μερικά pg, ng, μg δείγματος) σε περιβαλλοντικά, βιολογικά δείγματα, δείγματα τροφίμων κλπ, χωρίς την ανάγκη αερίων, ψυκτικών και με χαμηλή κατανάλωση ενέργειας.
Φασματόμετρα φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθους εφαρμογών όπως π.χ. κράματα, τσιμέντα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβή ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας. Ανάλυση στοιχείων από Be έως και U, σε συγκεντρώσεις από ppm έως %.