Αναλυτές Ακτίνων Χ

Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD)

Από πλήρως επιτραπέζια έως και υψηλού επιπέδου επιδαπέδια περιθλασίμετρα ακτίνων Χ με ευέλικτο σχηματισμό, για εφαρμογές αναγνώρισης φάσης, ποσοτικοποίησης, προσδιορισμού κρυσταλλικής δομής, μικροδομής, πάχους επιφανειών κλπ.

Δείτε περισσότερα

Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD

Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ μονοκρυστάλλου (SC-XRD)

Για εφαρμογές τόσο στη Χημική και στη Βιολογική Κρυσταλλογραφία Στοιβαρής Τεχνολογίας με δυνατότητα χρήσης διαφορετικών λυχνιών (π.χ. microfocus, sealed, κλπ) και ανιχνευτών.

Δείτε περισσότερα

Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD)

Συστήματα SAXS

SAXS και GISAXS για μελέτη σωματιδίων στην περιοχή από 1 nm έως 0,1 μm. Για πολυμερή και πρωτεΐνες σε διάλυμα, υγρούς κρυστάλλους, χαρακτηριστικά επιφανείας, σκόνες, ολόκληρα δείγματα και λεπτές μεμβράνες, τα συστήματα όχι μόνο παρέχουν πληροφορίες για μεγέθη, σχήμα και κατανομή μεγέθους νανοσωματιδίων, αλλά και για δομική δυναμική.

Δείτε περισσότερα

Συστηματα SAXS

Φασματόμετρα φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)

Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθους εφαρμογών όπως π.χ. κράματα, τσιμέντα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβή ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας. Ανάλυση στοιχείων από Be έως και U, σε συγκεντρώσεις από ppm έως %.

Δείτε περισσότερα

Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)

Φορητά Φθορισμόμετρα Ακτίνων-Χ

Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθος εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή, αρχαιομετρίας κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβής ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας.

Δείτε περισσότερα

Φασματόμετρα φθορισμού micro-XRF

Για τη στοιχειακή ανάλυση με μικρό σημείο εστίασης σε πολλά πεδία εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, αρχαιομετρίας, εγκληματολογίας, ηλεκτρονικά κλπ. Προσφέρουν δυνατότητα σημειακής ανάλυσης ή χαρτογράφηση (mapping) ολόκληρων επιφανειών ή αντικειμένων. Στην ανάλυση συνδυάζονται αποτελέσματα ποιοτικής και ποσοτικής ανάλυσης.

Δείτε περισσότερα

Φασματόμετρα φθορισμού micro-XRF

Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)

Συστήματα τεχνολογίας total reflection x-ray για στοιχειακή ανάλυση ιχνοστοιχείων, έως και σε ppb. Για μέτρηση μικροποσοτήτων (έως και μερικά pg, ng, μg δείγματος) σε περιβαλλοντικά, βιολογικά δείγματα, δείγματα τροφίμων κλπ, χωρίς την ανάγκη αερίων, ψυκτικών και με χαμηλή κατανάλωση ενέργειας.

Δείτε περισσότερα

Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)

Φασματόμετρα OES

Τεχνολογίας OES για τη στοιχειακή ανάλυση μετάλλων και κραμάτων. Με εφαρμογή σε χυτήρια και εργαστήρια μετάλλων για κάλυψη από ppm έως %.

Δείτε περισσότερα

Φασματόμετρα OES