NMR / EPR
ΑΝΑΛΥΤΕΣ ΑΚΤΙΝΩΝ Χ
ΜΕΛΕΤΗ ΥΛΙΚΩΝ
Φασματογράφος NMR
Η φασματογραφία NMR προσδιορίζει τη δομή οργανικών ενώσεων, βάσει διακριτών σημάτων των πυρήνων διαφόρων χημικών ομάδων των μορίων των ενώσεων αυτών. Οι φασματογράφοι NMR της Bruker, καλύπτουν ένα εύρος από μικρά επιτραπέζια συστήματα NMR έως μεγάλα, ισχυρά συστήματα με μεγάλης ισχύος μαγνήτες έως 1,2 GHz. Είναι κατάλληλοι για υγρά και στερεά δείγματα κάθε είδους, με μεγάλη ποικιλία probes και λογισμικού, με δυνατότητες αυτοματισμού. Καλύπτουν ευρύ φάσμα εφαρμογών σε έρευνα και βιομηχανία (τρόφιμα, φαρμακευτική, κλπ.).
Minispec NMR
Επιτραπέζια Συστήματα Πυρηνικού Μαγνητικού Συντονισμού TD-NMR BRUKER. Αναλυτές για μετρήσεις σε τρόφιμα και άλλα δείγματα όπως καύσιμα τα οποία καλύπτουν πλήρως διεθνή πρότυπα.
Φασματογράφος EPR
Η φασματογραφία EPR βασίζεται στον παραμαγνητικό συντονισμό ηλεκτρονίου και μετρά φάσματα παραμαγνητικών ειδών σε βιολογικά συστήματα. Οι φασματογράφοι EPR της Bruker καλύπτουν όλες τις τεχνικές: pulse, double resonance, high frequency, X-band, κλπ. Με ευρεία γκάμα βιομηχανικών και ερευνητικών εφαρμογών.
Συστήματα Προ-κλινικών Μελετών MRI
H Bruker κατέχει ηγετική θέση στην παγκόσμια αγορά στον τομέα το προ-κλινικών μελετών.
Προσφέρει προηγμένες λύσεις απεικόνισης για ένα ευρύ φάσμα εφαρμογών, όπως ογκολογία, νευρολογία, καρδιολογία, φλεγμονώδεις λοιμώξεις, έρευνα καρκίνου, λειτουργική και ανατομική απεικόνιση νευρώνων , ορθοπεδική, καρδιακή απεικόνιση και μελέτη εγκεφαλικών επεισοδίων. Η πλούσια γκάμα των συστημάτων της περιλαμβάνει απεικόνιση μαγνητικού συντονισμού (MRI), τομογραφία εκπομπής ποζιτρονίων (PET), αξονική τομογραφία (micro-CT) και μαγνητική απεικόνιση νανοσωματιδίων (MPI).
Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ (XRD)
Από πλήρως επιτραπέζια έως και υψηλού επιπέδου επιδαπέδια περιθλασίμετρα ακτίνων Χ με ευέλικτο σχηματισμό, για εφαρμογές αναγνώρισης φάσης, ποσοτικοποίησης, προσδιορισμού κρυσταλλικής δομής, μικροδομής, πάχους επιφανειών κλπ.
Περιθλασίμετρα ακτίνων Χ μονοκρυστάλλου (SC-XRD)
Για εφαρμογές τόσο στη Χημική και στη Βιολογική Κρυσταλλογραφία Στοιβαρής Τεχνολογίας με δυνατότητα χρήσης διαφορετικών λυχνιών (π.χ. microfocus, sealed, κλπ) και ανιχνευτών.
Συστήματα SAXS
SAXS και GISAXS για μελέτη σωματιδίων στην περιοχή από 1 nm έως 0,1 μm. Για πολυμερή και πρωτεΐνες σε διάλυμα, υγρούς κρυστάλλους, χαρακτηριστικά επιφανείας, σκόνες, ολόκληρα δείγματα και λεπτές μεμβράνες, τα συστήματα όχι μόνο παρέχουν πληροφορίες για μεγέθη, σχήμα και κατανομή μεγέθους νανοσωματιδίων, αλλά και για δομική δυναμική.
Φασματόμετρα φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθους εφαρμογών όπως π.χ. κράματα, τσιμέντα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβή ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας. Ανάλυση στοιχείων από Be έως και U, σε συγκεντρώσεις από ppm έως %.
Φορητά Φθορισμόμετρα Ακτίνων-Χ
Για τη στοιχειακή ανάλυση πλήθος εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, εδάφη, τρόφιμα, πετρελαιοειδή, αρχαιομετρίας κλπ. Προσφέρουν άμεση, εύκολη και ακριβής ανάλυση αφού συμπυκνώνουν τεχνολογίες γρήγορων και ευαίσθητων ανιχνευτών με πολλαπλά επίπεδα ασφάλειας.
Φασματόμετρα φθορισμού micro-XRF
Για τη στοιχειακή ανάλυση με μικρό σημείο εστίασης σε πολλά πεδία εφαρμογών και δειγμάτων όπως π.χ. κράματα, αρχαιομετρίας, εγκληματολογίας, ηλεκτρονικά κλπ. Προσφέρουν δυνατότητα σημειακής ανάλυσης ή χαρτογράφηση (mapping) ολόκληρων επιφανειών ή αντικειμένων. Στην ανάλυση συνδυάζονται αποτελέσματα ποιοτικής και ποσοτικής ανάλυσης.
Φασματόμετρα φθορισμού ολικής ανάκλασης ακτίνων Χ (TXRF)
Συστήματα τεχνολογίας total reflection x-ray για στοιχειακή ανάλυση ιχνοστοιχείων, έως και σε ppb. Για μέτρηση μικροποσοτήτων (έως και μερικά pg, ng, μg δείγματος) σε περιβαλλοντικά, βιολογικά δείγματα, δείγματα τροφίμων κλπ, χωρίς την ανάγκη αερίων, ψυκτικών και με χαμηλή κατανάλωση ενέργειας.
Φασματόμετρα OES
Τεχνολογίας OES για τη στοιχειακή ανάλυση μετάλλων και κραμάτων. Με εφαρμογή σε χυτήρια και εργαστήρια μετάλλων για κάλυψη από ppm έως %.
Συστήματα Στοιχειακής Ανάλυσης
Που προσαρμόζονται σε Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης/Διέλευσης (SEM/TEM) όπως EDS, WDS, EBSD και Micro-XRF για τον πλήρη χαρακτηρισμό των υλικών.
Nano IR
Πρωτοποριακά συστήματα που συνδυάζουν AFR-IR/SNOM για να καλύψουν τις πιο απαιτητικές ανάγκες ενός ερευνητικού εργαστηρίου.
Τριβόμετρα
Συστήματα για την πλήρη μέτρηση της τριβής, φθοράς, φορτίου, σκληρότητα ακόμα και λίπανσης για μία μεγάλη περιοχή εφαρμογών από τη βιομηχανία, ημιαγωγούς και βιοϊατρική.
Νανοσκληρόμετρα
H Bruker (με την εξαγορά της Hysitron) είναι ο γνωστότερος κατασκευαστής στον τομέα των νανοσκληρομέτρων για μέτρηση νανομηχανικών ιδιοτήτων και πλήρη κάλυψη όλων των σχετικών εφαρμογών.
Προφιλόμετρα Επαφής
Που παρέχουν ακριβείς μετρήσεις σε διάφορες επιφάνειες για τον χαρακτηρισμό της τραχύτητας 2D και μετρήσεις βημάτων.
Οπτικά Προφιλόμετρα / 3D οπτικά μικροσκόπια
Η Bruker είναι ο κύριος ηγέτης στη τριδιάστατη μέτρηση επιφανειών, χωρίς επαφή με το δείγμα που μπορεί να είναι ένα μικρό ηλεκτρονικό ΜEMS έως ένα μεγάλο μέρος κινητήρα μηχανής.
Μικροσκόπια Ατομικής Δύναμης AFM
Η Bruker είναι ο πιο διεθνώς αναγνωρισμένος κατασκευαστής Μικροσκοπίων AFM/SPM με ιστορία άνω των 30 ετών (πρώην Digital Instruments, Veeco). Με πληθώρα πρωτοποριών τεχνικών απεικόνισης (tapping mode, peak force tapping) καθώς και για νανομηχανικής. Όργανα που καλύπτουν πλήρως όλες τις εφαρμογές για υλικά αλλά και για βιολογικές εφαρμογές.
Αξονική τομογραφία (Micro-CT)
Για την 3D απεικόνιση δειγμάτων για εφαρμογές γεωλογικές, φαρμακευτικές, ηλεκτρονικών κλπ.
