Φασματοφωτόμετρα UV-VIS (Hitachi & VWR)
Φασματοφωτόμετρα UV-VIS με άριστη ποιότητα κατασκευής. Διατίθενται όργανα μονής δέσμης VWR, ηλεκτρονικής διπλής δέσμης (Ratio Beam) Hitachi με λυχνία ξένου και υποδοχείς πολλών θέσεων και διπλής δέσμης Hitachi με λυχνία ξένου και υποδοχείς πολλών θέσεων καθώς και VWR με λυχνίες δευτερίου & βολφραμίου.
Προετοιμασία δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας SEM/TEM
Τα καινοτόμα επιτραπέζια συστήματα ZONESEM II και ΖΟΝΕΤΕΜ ΙΙ της Hitachi χρησιμοποιούν τεχνολογία καθαρισμού δειγμάτων που βασίζεται στην υπεριώδη ακτινοβολία και στοχεύουν στην ελαχιστοποίηση ή την εξάλειψη της συσσώρευσης υδρογονανθράκων από την επιφάνεια του δείγματος για αποτελεσματικότερη απεικόνιση με ηλεκτρονικά μικροσκοπία SEM και ΤΕΜ.
Δείτε περισσότερα
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια (SEM, TEM, FIB)
Ηλεκτρονικά Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM)
Τα ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης (SEM) της Hitachi διαθέτουν πήγες διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και διαφορετικών τύπων όπως, συμβατική θερμιονική πηγή , πηγή εκπομπής πεδίου με υψηλότερη φωτεινότητα και διακριτή ικανότητα για παρατήρηση επιφανειακών μικροδομών , πηγή εκπομπής πεδίου ηλεκτρονίων θερμοδυναμικής ισορροπίας. Προσφέρον λειτουργία σε συνθήκες υψηλού ,χαμηλού κενού και μεταβλητής πίεσης για διευρυμένο πεδίο εφαρμογών . Η σειρά διαθέτει και επιτραπέζια συμβατικά ηλεκτρονικά μικροσκοπία σάρωσης για ευρεία γκάμα εφαρμογών.
Δείτε περισσότερα
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διέλευσης (TEM) της Hitachi διαθέτουν πηγές διαφορετικών τάσεων επιτάχυνσης και με σκοπό την ιδανική επιλογή μοντέλου από τον χρήστη με βάση τη σύνθεση του δείγματος. Η σειρά διαθέτει μοντέλα 300kV και 200kV με υψηλή ανάλυση και δυνατότητα διείσδυσης σε ανόργανα υλικά όπως μέταλλα και κεραμικά καθώς και μοντέλο στα 120kV για εφαρμογές σε πολυμερή και βιολογικούς ιστούς. Η διαθεσιμότητα μικροσκοπίων με δυνατότητα διόρθωσης σφαιρικής εκτροπής και οι πήγες εκπομπής πεδίου αποτελούν ισχυρές επιλογές για προηγμένες αναλυτικές επιδόσεις.
Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB)
Τα Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB) είναι σχεδιασμένα για παρατήρηση της δομής της επιφάνειας των δειγμάτων με την ανίχνευση ηλεκτρόνιων που παράγονται από ακτινοβολία δέσμης ιόντων. Επιπλέον παρέχουν την δυνατότητα για την προετοιμασία εγκάρσιας τομής συγκεκριμένης περιοχής τoυ δείγματος για παρατήρηση με SEM και προετοιμασία εξαιρετικά λεπτών τομών για παρατήρηση ΤΕΜ. Η Hitachi ενσωματώνει την τεχνολογία FIB με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης ( SEM) σε ένα ενιαίο σύστημα και επιτρέπει επιτόπια παρατήρηση της διατομής που έχει παρασκευασθεί από το σύστημα FIB.